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LAP-NM10000光(guang)相關納米粒度(dù)分析儀
産(chǎn)品名稱:LAP-NM10000納(na)米激光粒度分(fen)析儀
技術(shu)标準: GB/T 19627-2005/ISO 13321:1996 GB/T 29022-2012/ISO 22412:2008
測試範圍(wei): 1nm—10000nm
探測(ce)單元:動态(tai)光散射(光電倍(bèi)增管(PMT))
激光(guang)類型:光纖(xian)半導體激光器(qi),λ= 532nm,使用壽命:>25000H

LAP-NM10000是我公司(sī)推出的基于動(dong)态光散射原理(li)的納米粒度儀(yí)😍。它💰采用高速數(shù)字相關器和專(zhuān)業的高性能光(guāng)電倍增管作爲(wei)核心器件,具有(yǒu)快速、高分辨率(lü)、重複及準确等(děng)特點,是納米顆(kē)粒粒度測定的(de)産品。
主要(yao)性能特點:
*的測試原理:本儀器采用(yong)動态光散射原(yuán)理和光子相關(guān)光譜技術,根據(ju)顆粒在液體中(zhōng)的布朗運動的(de)速度測定顆粒(li)大小。小顆粒🈲布(bu)朗運動速度快(kuai),大顆粒布朗運(yùn)動速度慢📱,激光(guang)照射這些顆粒(li),不同大小的顆(kē)粒将使散射光(guang)發生快慢不同(tóng)的漲落起伏。光(guāng)子🌈相關光譜法(fa)就根據特定方(fāng)向的光子漲落(luò)起伏分析其顆(kē)粒大小。因此本(běn)儀器具有原理(lǐ)*、精度*的特點,從(cóng)而保證了測試(shi)結果的真實性(xìng)和有效性;是納(nà)米激顆粒粒度(dù)測定的儀器。
高靈敏度與(yu)信噪比:本(běn)儀器的探測器(qi)采用專業級高(gāo)性能光電倍增(zēng)管(PMT),對光子信号(hào)具有*的靈敏度(du)和信噪比,從而(er)保證了測試結(jie)果的準确度;
*的運算功能(néng):使用PCS技術(shù)測定納米級顆(kē)粒大小,必須能(néng)夠分辨納秒級(jí)信号起伏。本儀(yí)器的核心部件(jiàn)采用集成電路(lu)ASIC研制的高速光(guang)子相🛀關器,具有(you)識别6ns的*分辨能(néng)力和*的信号處(chù)理速度,可快♉速(sù)實時的采集光(guāng)子數并計算相(xiang)關運算,我測試(shi)尊确定奠定基(jī)礎。
穩定的(de)光路系統:采用短波長LD泵(beng)浦激光光源和(he)光纖技術搭建(jian)而成的光👄路系(xi)統,使光子相關(guan)譜探測系統不(bu)僅體積小,而且(qie)具有很強的抗(kang)幹擾能力,爲測(cè)試的準确性奠(diàn)定基礎。
高(gāo)精度溫控系統(tong):樣品池溫(wen)控系統和激光(guang)器溫控系統精(jing)度高達±0.1℃,使被💯測(cè)樣品🔞和㊙️激光器(qì)光源在整個測(ce)試過程中都處(chu)于恒溫狀态,避(bì)免溫度變✨化對(dui)不測試結果的(de)影響,确保測試(shi)準确性和重複(fú)性;
*功能的(de)分析軟件:分析軟件中反(fan)演算法采用标(biāo)準推薦的累計(ji)量法以及目前(qian)🐪比❄️較通用的非(fei)負zui小二乘法(NNLS)和(hé)Contin等多種算👄法,其(qi)測試結果與的(de)❄️同類♉産品具有(yǒu)很好的一緻性(xìng);
測試并穩(wěn)定:高性能(néng)的硬件和标準(zhǔn)化的反演算法(fǎ)的結合,造就了(le)Nano90測試結果🐉的與(yu)重複,其測試準(zhǔn)确度和重複性(xing)等指标均高于(yu)标準要求。
此款納米粒度(dù)儀已經達到國(guó)外納米粒度儀(yí)的測試📐水平!
LAP-NM10000光相關(guān)納米粒度儀技(jì)術參數及詳細(xì)配置
規格(ge)型号 | LAP-NM10000 |
執行标準 | GB/T 29022-2012/ISO 22412:2008 |
測試(shì)範圍 | 1-10000nm(與樣品有關) |
濃度範圍 | 0.1mg/L-100mg/L |
準确度(du)誤差 | <1%(國家标準樣品(pin)平均粒徑) |
重複性誤差 | <1%(國家标(biāo)準樣品平均粒(lì)徑) |
激光 | λ=532nm,LD泵浦激(ji)光器(*帶溫控保(bao)護) |
探測器(qi) | 光電倍增(zēng)管(PMT) |
散射角(jiao) | 90° |
樣品(pǐn)池 | 10mm*10mm , 4ml(帶(dài)溫控保護) |
溫度範圍 | 8-45℃(溫度(dù)到0.1℃) |
測試速度 | <1Min/次(不含(hán)樣品分散時間(jiān))
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